Texas Instruments SN74ABT18640DGGR IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP

Şəkil təsvir ola bilər.
Məhsul təfərrüatları üçün spesifikasiyalara baxın.

Ətraflı Məlumata Baxın Məlumat vərəqləri

SN74ABT18640DGGR

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP

Hissə nömrəsi

SN74ABT18640DGGR

İstehsalçı/Brend

Texas Instruments

Serial

74ABT

Hissə Vəziyyəti

Obsolete

Qablaşdırma

Cut Tape (CT)

İşləmə temperaturu

-40°C ~ 85°C

Montaj növü

Surface Mount

Paket / Çanta

56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

Təchizatçı Cihaz Paketi

56-TSSOP

Təchizat gərginliyi

4.5 V ~ 5.5 V

Bitlərin sayı

Məntiq növü

Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers

Sitat tələb edin

Zəhmət olmasa, bütün tələb olunan sahələri doldurun və "GÖNDƏR üzərinə klikləyin, biz 12 saat ərzində sizinlə e-poçt vasitəsilə əlaqə saxlayacağıq. Hər hansı bir probleminiz varsa, [email protected] ünvanına mesaj və ya e-poçt göndərin, ən qısa zamanda cavab verəcəyik.

Stokda 21308 PCS

Əlaqə məlumatı

Əlaqədar Məhsullar

SN7400D

IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC