Texas Instruments SN74LVTH182502APMR IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP

Şəkil təsvir ola bilər.
Məhsul təfərrüatları üçün spesifikasiyalara baxın.

Məlumat vərəqləri

SN74LVTH182502APMR

IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP

Hissə nömrəsi

SN74LVTH182502APMR

İstehsalçı/Brend

Texas Instruments

Serial

74LVTH

Hissə Vəziyyəti

Active

Qablaşdırma

Cut Tape (CT)

İşləmə temperaturu

-40°C ~ 85°C

Montaj növü

Surface Mount

Paket / Çanta

64-LQFP

Təchizatçı Cihaz Paketi

64-LQFP (10x10)

Təchizat gərginliyi

2.7 V ~ 3.6 V

Bitlərin sayı

Məntiq növü

ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

Sitat tələb edin

Zəhmət olmasa, bütün tələb olunan sahələri doldurun və "GÖNDƏR üzərinə klikləyin, biz 12 saat ərzində sizinlə e-poçt vasitəsilə əlaqə saxlayacağıq. Hər hansı bir probleminiz varsa, [email protected] ünvanına mesaj və ya e-poçt göndərin, ən qısa zamanda cavab verəcəyik.

Stokda 53013 PCS

Əlaqə məlumatı

Əlaqədar Məhsullar

SN7400D

IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC