Texas Instruments SN74LVTH182512DGGR IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP

Şəkil təsvir ola bilər.
Məhsul təfərrüatları üçün spesifikasiyalara baxın.

Məlumat vərəqləri

SN74LVTH182512DGGR

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP

Hissə nömrəsi

SN74LVTH182512DGGR

İstehsalçı/Brend

Texas Instruments

Serial

74LVTH

Hissə Vəziyyəti

Active

Qablaşdırma

Cut Tape (CT)

İşləmə temperaturu

-40°C ~ 85°C

Montaj növü

Surface Mount

Paket / Çanta

64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)

Təchizatçı Cihaz Paketi

64-TSSOP

Təchizat gərginliyi

2.7 V ~ 3.6 V

Bitlərin sayı

Məntiq növü

ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers

Sitat tələb edin

Zəhmət olmasa, bütün tələb olunan sahələri doldurun və "GÖNDƏR üzərinə klikləyin, biz 12 saat ərzində sizinlə e-poçt vasitəsilə əlaqə saxlayacağıq. Hər hansı bir probleminiz varsa, [email protected] ünvanına mesaj və ya e-poçt göndərin, ən qısa zamanda cavab verəcəyik.

Stokda 17539 PCS

Əlaqə məlumatı

Əlaqədar Məhsullar

SN7400D

IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC